목차
01 반도체 테스트의 이해
- 반도체 후공정
- 테스트의 종류
- 웨이퍼 테스트
EPM
웨이퍼 번인
테스트
리페어 - 패키지 테스트
TDBI
테스트
외관 검사
02 반도체 패키지의 정의와 역할
- 반도체 패키지의 정의
- 반도체 패키지의 역할
- 반도체 패키지의 개발 트렌드
- 반도체 패키지 개발 과정
03 반도체 패키지의 종류
- 반도체 패키지의 분류
- 컨벤셔널 패키지
플라스틱 패키지 - 리드프레임 타입 패키지
플라스틱 패키지 - 서브스트레이트 타입 패키지
세라믹 패키지 - 웨이퍼 레벨 패키지
웨이퍼 레벨 패키지
재배선
플립 칩 - 적층 패키지
패키지 적층
칩 적층 - Chip Stack with Wire Bonding
실리콘 관통 전극 - Chip Stack with TSV - 시스템 인 패키지
04 반도체 패키지 설계와 해석
- 반도체 패키지 설계
- 구조 해석
휨 해석
솔더 접합부 신뢰성
강도 해석 - 열 해석
- 전기 해석
05 반도체 패키지 공정
- 컨벤셔널 패키지 공정
백 그라인딩
웨이퍼 절단
다이 어태치
인터커넥션
몰딩
마킹
트리밍 - 리드프레임
솔더 도금 - 리드프레임
성형 - 리드프레임
솔더 볼 마운팅 - 서브스트레이트
싱귤레이션 - 서브스트레이트 - 웨이퍼 레벨 패키지 공정
포토 공정
스퍼터링 공정
전해도금 공정
습식 공정 - PR 스트립과 금속 에칭
팬인 WLCSP 공정
솔더 볼 마운팅 공정
플립 칩 범프 공정
재배선 공정
팬아웃 WLCSP 공정
실리콘 관통 전극 패키지 공정 - 검사와 측정
검사
측정
06 반도체 패키지 재료
- 컨벤셔널 패키지 재료
리드프레임
서브스트레이트
접착제
에폭시 몰딩 컴파운드
솔더
테이프
와이어
포장 재료 - 웨이퍼 레벨 패키지 재료
- 포토 레지스트
도금 용액
PR 스트립퍼
에천트
스퍼터 타깃
언더필
캐리어와 접착제, 마운팅 테이프
07 반도체 패키지 신뢰성
- 신뢰성 의미
- JEDEC 기준
- 수명 신뢰성 시험
- EFR
HTOL
LTOL
HTSL
LTSL
Endurance
Data Retention - 환경 신뢰성 시험
Preconditioning
TC
TS
THS
PCTP
UHAST
HAST
HALT - 기계적 신뢰성 시험
충격
진동
구부림
비틀림
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